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涂層測厚儀FI基體
涂層測厚儀鐵基標準基體F1型,用于F1探頭校零或作為基材配合標準試片使用，工作原理采用磁性法，當測頭與校零基體接觸時，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量變化可導出覆蓋層的厚度，以實現鐵基體材料上涂層測厚的目的。
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涂鍍層測厚儀
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